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公司主营：检测开关,复位开关,限位开关,侦测开关,防拆开关
当电理性负载（磁体、继电器、电磁器）堵截时，会产生数千伏的反电动势，导致无接点输出输出元件的损坏和接点输出接点外表粗糙形成的触摸不良现象。作为其对策，应尝试并联反电动势吸收元件（CR、非线性电阻、二极管）。
1.运用初始毛病。
以光电开关、挨近开关等为主体的检测开关，半导体在运用初期一般会呈现毛病。
原因是在电路中运用的半导体在制造过程中遭到各种应力影响，在运用开端后的短时间内形成损坏；此外，功率低于半导体的电阻和电容也是运用初始毛病的原因。初始毛病的发生时间因制造办法的不同而不同。它不能混为一谈。它通常发生在运用开端后的一周到10天内。
包含半导体部件问题、电阻、电容断线、短路、容量缺乏、电路板断路、焊接资料等不良现象，但发生率很低。当挨近开关常常发生问题时，可以考虑运用环境问题，请咨询制造商。
当配线过错或带电操作导致负荷短路时，大电流流向检测开关，输出电路烧毁。作为检测开关外的维护对策，可采用堵截快速保险丝短路电流的办法，通过保险丝进行维护，既能维护负荷短路，又能维护地线。但由于开关内输出晶体管剩余容量小，不能达到100[%]的效果。
搅扰波形成的损坏是缓慢形成的，因而在开端运用后的一个月或两三个月后损坏是非常常见的。因而，在此期间损坏的原因可以判别为搅扰波。电感负载开关时检测开关的瞬时过错动作是由搅扰波引起的。
